Обучение профессии измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники в Ступине на 2, 3, 4, 5 разряд на курсах без отрыва от производства

Характеристика работ.

• Измерение электрических параметров радиодеталей на контрольно-измерительных приборах, автоматах и полуавтоматах в серийном и массовом производствах.
• Измерение электрических параметров: индуктивности, омического сопротивления, емкости на заданный номинал.
• Измерение электрических параметров селеновых элементов на измерительных пультах.
• Периодическая проверка на приборах правильности рассортировки изделий по измеряемым параметрам.
• Электро- и термотренировка резисторов.
• Замена резисторов и конденсаторов с точностью 5 - 15%.
• Самостоятельная настройка приборов по эталону на требуемые значения электрических и электромагнитных параметров и периодическая проверка правильности их показаний.

Должен знать:

1. наименование, назначение и условия применения контрольно-измерительных аппаратуры и приборов;
2. методы проверки, настройки и регулирования измерительных приборов в процессе работы;
3. правила пользования шкалами и таблицами на погрешность прибора и на изменение емкости после прокаливания;
4. номинальные значения и допускаемые величины измеряемых параметров;
5. методы измерения емкости и подгонки заданной емкости;
6. величину частот, на которых производится измерение магнитных параметров;
7. основные понятия о переменном токе;
8. единицы измерения электрического тока;
9. пределы допусков для измерения по заданному классу точности.;

Примеры работ

1. Изделия типа ТОЛ, ТОТ, М-63 - измерение электрических параметров.

2. Кольца альсиферовые - измерение индуктивности и магнитной проницаемости с рассортировкой по группам проницаемости.

3. Конденсаторы оксидные - измерение емкости, тангенса угла диэлектрических потерь и тока утечки на приборах и автоматах.

4. Контур промежуточной частоты (фильтр) - измерение параметров.

5. Конденсаторы и блоки керамические герметизированные трубчатые - измерение стабильности на приборе.

6. Магнитопроводы из электротехнической стали (толщина ленты 0,03 - 0,35 мм) - измерение электрических параметров и геометрических размеров.

7. Микротрансформаторы - измерение сопротивления между обмотками.

8. Пластины ферритовые - измерение электрических параметров на специальном стенде.

9. Предохранители керамические - измерение электрических параметров.

10. Резисторы постоянные и переменные - измерение электрических параметров.

11. Радиолампы и кинескопы - проверка межэлектродной емкости и напряжений.

12. Резисторы постоянные непроволочные - проверка шумомером ЭДС шумов.

13. Стержни антенн - проверка на приборах добротности и электрической емкости.

14. Секции и собранные конденсаторы: бумажные, слюдяные, стеклокерамические, пленочные - измерение емкости с рассортировкой по классам точности на приборах.

15. Сердечники - измерение магнитных параметров, измерение добротности на омметре и индуктивности на ИЕЕВ или мосте УМ-3; проверка удельного сопротивления и напряженности среднего поля на приборе.

16. Селеновые элементы серий "А", "Я", "Ф", Т" всех размеров - измерение прямого и обратного тока.

17. Трансформаторы - проверка коэффициента трансформации, асимметрии обмоток, тока холостого хода, сопротивления обмоток и изоляции.

18. Тороиды - измерение на омметре электрических параметров.

Характеристика работ.

Измерение емкости, тангенса угла диэлектрических потерь, тока утечки, величины омического сопротивления и Других электрических параметров собранных радиодеталей и ферритовых изделий на контрольно-измерительных приборах. Определение электрических параметров по нескольким шкалам прибора или по двум и более приборам. Измерение емкостных, обратных токов рабочих и оптимальных напряжений полупроводниковых детекторов. Определение толщины полупроводниковых, диэлектрических, эпитаксиальных слоев методом сферического шлифа, бесконтактным методом, контактным и разрушающим методами. Определение типов проводимости, измерение вольтфарадных характеристик и сопротивлений МДП и ЦЦП-структур, измерение интенсивности электролюминесценции и величин термо ЭДС полупроводниковых материалов. Измерение электрических параметров селеновых элементов и выпрямителей. Испытание электрической прочности и сопротивления изоляции. Проверка отсортированных селеновых элементов на контрольно-проверочном стенде и купроксных выпрямительных элементов на ручном прессе и пульте. Пооперационный контроль незалитых микромодулей в соответствии с чертежами и ТУ, контроль качества маркировки, проверка токопроводящих линий на электропрочность и величину сопротивления. Проверка микромодулей по картам сопротивлений и напряжений. Подготовка образцов к измерению, изготовление сферических шлифов. Травление и декапирование образцов в кислотах и травителях. Настройка приборов на измерение необходимых значений электрических и электрофизических параметров. Определение отношений тангенса угла общих потерь к начальной магнитной проницаемости. Элементарные расчеты по формулам.

Должен звать: устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных приборов; методику измерения электрических, электрофизических и электромагнитных параметров изделий электронной техники; свойства кислот и травителей; правила травления, декапирования и промывки; методы измерения толщины и типов проводимости; принципиальные схемы проверки вольт-амперных характеристик и пробивных напряжений; степень точности, пределы измерений и цену делений шкал электроизмерительных приборов; основные теоретические положения электро- и радиотехники.

Примеры работ

1. Выпрямители селеновые из элементов серий "А", "Г", "Я", "Ф" всех размеров - измерение электропараметров.

2. Двуокись кремния на кремниевой подложке - измерение плотности сквозных дефектов слоя электрохимическим методом под микроскопом при увеличении в 25 - 50 раз.

3. Изделия ферритовые, изделия типа ТРН-200 - измерение электрических параметров.

4. Конденсаторы - измерение электрических параметров.

5. Кольца ферритовые, альсиферовые и карбонильные - измерение электрических и электромагнитных параметров.

6. Микротрансформаторы ММТИ - измерение коэффициента трансформации, электрической прочности и сопротивления изоляции, тока намагничивания, индуктивности рассеивания, емкости между обмотками, длительности переднего и заднего фронтов, сигналов, помех.

7. Многослойные печатные платы - разметка топологии, замеры переходного сопротивления в отверстиях.

8. Пластины, слитки полупроводниковых материалов, слои - определение типа проводимости; определение угла отклонения от заданного кристаллографического направления оптическим методом.

9. Пластины с кристаллами микросхем малой степени интеграции - проверка статических параметров.

10. Пластины полупроводниковые - определение толщины эпитаксиальных структур методом шарового шлифа.

11. Платы электронных часов - проверка тока потребления, генерации и диапазона перестройки кварцевого генератора.

12. Резисторы - измерение и подгонка сопротивлений; измерение величины омического сопротивления в условиях серийного и массового производства с точностью до +/- 5%.

13. Секции металлобумажные, пленочные - измерение электрических параметров.

14. Секции оксидных конденсаторов - измерение емкости на специальной установке.

15. Селеновые элементы серий "А", "Я", "Ф", "Г" всех размеров - измерение всех электропараметров.

16. Слои диэлектрические, поликристаллические, эпитаксиальные - измерение толщины по таблицам цветности, на инфракрасных спектрофотометрах, измерение толщины на поляризационном микроскопе в проходящем ИК-свете по электрооптическому эффекту в арсениде галлия.

17. Стержни ферритовые - измерение угла поворота плоскости поляризации в заданном диапазоне.

18. Схемы интегральные - измерение электрофизических параметров, диффузионных и напылительных процессов для ИС III степени интеграции.

19. Трансформаторы и дроссели - измерение электрических параметров.

20. Ферриты кольцевые марганец-цинковые - измерение емкости, тангенса угла диэлектрических потерь.

Характеристика работ.

• Измерение температурной стабильности, температурного коэффициента и других электрических параметров радиодеталей.
• Измерение электрических параметров конденсаторов на электропрочность между выводами, сопротивления изоляции между выводами, на классы точности по емкости измеряемых конденсаторов.
• Измерение электрических и электромагнитных параметров матриц и дешифраторов.
• Измерение удельных сопротивлений полупроводниковых материалов, эпитаксиальных структур и поверхностного сопротивления поликристаллических слоев 4-зондовым методом.
• Определение скорости травления диэлектрических слоев, типа проводимости структур, зависимости емкостей и удельных сопротивлений от температуры.
• Определение плотности дислокации структурных дефектов на металлографических микросхемах и однородности распределения плотности по эталонам.
• Контроль статических параметров, контроль тестов на функционирование микросхем со степенью интеграции менее 100 эл/кв.
• мм.
• Проверка всех схем микромодулей по картам сопротивлений, напряжений и электрических параметров в нормальных условиях и при крайних значениях температур в камерах тепла и холода на соответствие требованиям ТУ.
• Запитка напряжением различных микромодулей, установленных на стендах.
• Проверка по электрическим параметрам и электрической прочности блоков селеновых выпрямителей, измерение селеновых элементов по электрическим параметрам для модуляторов и изделий специального назначения.
• Вычисление электрических параметров по формулам и измерение их на приборах.
• Подготовка и настройка установок, стендов и приборов к работе с последующей настройкой по эталонным пластинам.
• Проверка правильности показаний приборов и регулировка приборов в процессе работы.

Должен знать:

1. устройство, принципиальные схемы, принцип действия и способы проверки на точность обслуживаемого оборудования и приборов;
2. устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных приборов;
3. электрические характеристики измеряемых изделий;
4. способы настройки, регулировки и устранения мелких неисправностей приборов и автоматов;
5. методы расчетов температурного коэффициента емкости;
6. методы расчетов измерения емкости после воздействия влаги, нагрузки, холода;
7. основы теории электротехники и радиотехники;
8. назначение полупроводниковых материалов и эпитаксиальных структур и их свойства;
9. методы расчета величины тока смещения.;

Примеры работ

1. Блоки питания ЭКВМ - проверка по всем параметрам.

2. Диски пьезокерамические - измерение и расчет пьезомодуля Д31 емкости и тангенса угла диэлектрических потерь.

3. Изделия из ферритов - измерение импульсных температурных характеристик; измерение магнитной проницаемости на массовых схемах.

4. Конденсаторы и резисторы - измерение температурных коэффициентов, измерение минимальной и максимальной емкости, измерение и вычисление измерения емкости после воздействия влаги, нагрузки и холода.

5. Матрицы - измерение по электромагнитным параметрам с плотностью от 100 до 200 чисел на 1 кв. м с шагом 1 - 1,5 мм.

6. Монокристаллический кремний и германий - измерение удельного сопротивления 4-зондовым методом; определение плотности дислокации; изготовление омических контактов для измерения времени жизни методом модуляции проводимости в точечном контакте.

7. МПП с количеством точек до 3000 - проверка схемы на установке УКП.

8. Пластины памяти и пластины дешифраторов для кубов памяти - измерение электромагнитных параметров; нанесение микрообмотки на матрицы и дешифраторы; нанесение флюсов на выводы пластин; расчет длительности импульса и его амплитуды по показателям осциллографа.

9. Пластины, квадраты, кольца - измерение и расчет электрических параметров.

10. Пластины полупроводниковые - замер неплоскостности на установках типа 6019 с выводом значений на дисплей.

11. Платы печатного монтажа - контроль на короткое замыкание омического сопротивления, целостности цепи тестором и на прозвоночной станции.

12. Секции накопителей памяти - измерение и сортировка по электрическим параметрам.

13. Селеновые выпрямители специального назначения - измерение электрических параметров.

14. Слои и платы (МПП) - проверка на целостность цепей, на отсутствие короткого замыкания, проверка сопротивления изоляции.

15. Слои структур арсенида галлия - измерение толщины методом декорирования анодным окислением в ультрафиолетовом свете.

16. Ферриты - измерение СВЧ характеристик на специальных стендах; измерение температурного коэффициента; вычисление электрических параметров по формулам и измерение их на приборе.

17. Фоторезисторы - измерение ЭДС шумов.

18. Электронные часы - настройка частоты генератора, проверка функциональных параметров.

Характеристика работ.

• Измерение напряжения сигнала и напряжения помех, фазового сдвига, величины омического сопротивления и других электрических и электромагнитных параметров радиодеталей на специальных стендах, контрольно-измерительных приборах, осциллографах в условиях опытного и серийного производства.
• Снятие петли гистерезиса, определение коэффициента потерь на гистерезис, а также магнитных параметров по петле гистерезиса.
• Подсчет величины электромагнитной индукции и поля, необходимой для проверки изделий.
• Измерение удельных сопротивлений и толщины полупроводниковых материалов, эпитаксиальных, диэлектрических и поликристаллических слоев различными методами.
• Определение плотности поверхностных состояний на границе раздела полупроводник - диэлектрик.
• Определение концентрации, холловской подвижности и оптического поглощения.
• Измерение кристаллов дискретных приборов и микросхем со степенью интеграции до 1000 эл/кв.
• мм на измерительном оборудовании на предмет разбраковки их по тестам, функционированию, статическим параметрам и динамическим свойствам.
• Проверка сложных схем микромодулей по электрическим параметрам.
• Проверка микромодулей специального назначения по картам сопротивлений, напряжений и электрическим характеристикам на соответствие требованиям ТУ в нормальных условиях и при крайних значениях температур.
• Устранение неисправностей в обслуживаемом контрольно-измерительном оборудовании.
• Подготовка системы к работе, ввод рабочих программ.
• Работа на измерительных установках с применением ЭВМ.
• Выбор режима работы.
• Документирование результатов контроля, расчет требуемых характеристик.

Должен знать:

1. устройство, принципиальные схемы, принцип действия и способы проверки на точность измерительных установок;
2. правила проверки и регулирования измерительной аппаратуры;
3. узлы и пульты управления электронно-вычислительной техникой;
4. правила эксплуатации системы в различных режимах работы;
5. правила и способы тестирования, ввода программы с перфоленты и с пульта, значение систем исчисления, применяемых в вычислительной технике;
6. методику и способы измерения электрических, электрофизических и электромагнитных параметров изделий;
7. способы вычисления по формулам величины магнитного поля и индукции;
8. способы замера расчетных величин по приборам;
9. правила подключения приборов к источникам питания;
10. способы устранения неисправностей;
11. основы электро- и радиотехники.;

Требуется среднее профессиональное образование.

Примеры работ

1. Блоки питания для вычислительных машин типа "Минск" - проверка по всем параметрам.

2. Дешифраторы для кубов памяти - определение фазового сдвига, измерение амплитудного сигнала на стендах и приборах.

3. Диски, призмы, кольца пьезокерамические - измерение пьезомодуля Д31, емкости и тангенса диэлектрических потерь на измерительном комплексе "Параметр".

4. Кольца ферритовые с ППГ - измерение электромагнитных параметров.

5. Конденсаторы, резисторы, микросхемы - измерение и разбраковка по основным параметрам.

6. Монокристаллический кремний и германий - изготовление образцов и нанесение омических контактов для измерения коэффициента Холла и удельной электропроводимости; контроль линий скольжения; определение времени жизни методом подвижного светового зонда.

7. МПП с количеством точек свыше 3000 - проверка схемы на установке УКПМ-2; нахождение в схеме места дефектов согласно протоколу автоматизированного контроля.

8. Носители заряда - определение концентраций и подвижности в интервале температур методом эффекта Холла.

9. Пластины кремниевые полированные - выявление и контроль исчезающих и неисчезающих рисок.

10. Пластины с кристаллами ИМС и дискретных структур транзисторов - разбраковка кристаллов по группам с использованием дисплея ЭВМ.

11. Пластины опытные и кольца - измерение электромагнитных параметров.

12. Пластины и кольца с прямоугольной петлей гистерезиса - снятие характеристик, измерение и расчет электрических и электромагнитных параметров.

13. Пластины полупроводниковые - определение распределения концентрации и подвижности носителей тока по толщине активного слоя эпитаксиальных структур.

14. Резисторы и конденсаторы мощные - расчет нагрузок, проведение испытаний на высоковольтных высокочастотных установках под нагрузкой; измерение электрических характеристик до и после испытания.

15. Слои гетероструктурные на арсениде галлия - измерение интенсивности рекомбинационного излучения.

16. Структуры эпитаксиальные - проведение комплекса измерений на соответствие техническим уровням; измерение распределения удельного сопротивления по глубине эпитаксиального слоя; определение удельного сопротивления эпитаксиального слоя, имеющего одинаковый с подложкой тип проводимости.